AT810D LCR 數(shù)字電橋

更新時(shí)間： 2022-03-25
產(chǎn)品型號(hào)：
簡(jiǎn)單描述
AT810D LCR 數(shù)字電橋2011年全新第五版，使用技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT810D，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴(lài)于安柏儀器*的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。

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詳細(xì)介紹

2011年全新第五版，使用技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT810D，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。
AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴(lài)于安柏儀器*的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng)，使AT810D具有傻瓜式操作界面。

技術(shù)規(guī)格

測(cè)量參數(shù)	L,C,R,Z
監(jiān)視參數(shù)	D,Q,θ（deg）,θ（rad）
基本準(zhǔn)確度	0.2%
測(cè)試頻率	100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
顯示范圍	L:0.01μH-9999H C:0.01pF-9999μF R,Z:0.0001Ω-99.99MΩ? Q:0.0001-9999 θ（deg）:-90.00°-90.00°? θ（rad）: -3.1416 – 3.1416 Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001～9.9999
輸出阻抗	30Ω,100Ω
量程	6量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試
zui大讀數(shù)	主參數(shù)：99999 副參數(shù)：99999
信號(hào)電平	0.3Vrms和1Vrms
測(cè)試速度	3次/秒
比較器	1組文件記錄，5檔分選
列表掃描	無(wú)
校準(zhǔn)	開(kāi)路/短路點(diǎn)頻或掃頻清零
接口	無(wú)接口
其它	VFD顯示，鍵盤(pán)鎖和數(shù)據(jù)保持功能
電源要求	電壓：198VAC～240VAC 頻率：50Hz 功率：zui大20VA
尺寸與重量	264 （寬）x107（高）x350 （深），重量：4kg
附件	ATL501:測(cè)試電纜 ATL607: 測(cè)試夾具 ATL600: 短路片

性能特征

●	高亮度，超清晰四色VFD顯示。
●	校正功能：全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零。
●	第三窗口可同時(shí)顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。
●	1000V*沖擊保護(hù)