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AT810D LCR 數(shù)字電橋

  • 更新時(shí)間:  2022-03-25
  • 產(chǎn)品型號(hào):  
  • 簡(jiǎn)單描述
  • AT810D LCR 數(shù)字電橋2011年全新第五版,使用技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT810D,穩(wěn)定性更佳,全新按鍵設(shè)計(jì),操作更簡(jiǎn)單。AT810D采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用,使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器*的技術(shù),使其性能亦無(wú)可挑剔。
詳細(xì)介紹

2011年全新第五版,使用技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT810D,穩(wěn)定性更佳,全新按鍵設(shè)計(jì),操作更簡(jiǎn)單。
AT810D采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用,使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器*的技術(shù),使其性能亦無(wú)可挑剔。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率,并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平,使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng),使AT810D具有傻瓜式操作界面。

技術(shù)規(guī)格
測(cè)量參數(shù)L,C,R,Z
監(jiān)視參數(shù)D,Q,θ(deg),θ(rad)
基本準(zhǔn)確度0.2%
測(cè)試頻率100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
顯示范圍L:0.01μH-9999H C:0.01pF-9999μF R,Z:0.0001Ω-99.99MΩ? Q:0.0001-9999 θ(deg):-90.00°-90.00°? θ(rad): -3.1416 – 3.1416 Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001~9.9999
輸出阻抗30Ω,100Ω
量程6量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試
zui大讀數(shù)主參數(shù):99999 副參數(shù):99999
信號(hào)電平0.3Vrms和1Vrms
測(cè)試速度3次/秒
比較器1組文件記錄,5檔分選
列表掃描無(wú)
校準(zhǔn)開路/短路點(diǎn)頻或掃頻清零
接口無(wú)接口
其它VFD顯示,鍵盤鎖和數(shù)據(jù)保持功能
電源要求電壓:198VAC~240VAC 頻率:50Hz 功率:zui大20VA
尺寸與重量264 (寬)x107(高)x350 (深) ,重量:4kg
附件ATL501:測(cè)試電纜 ATL607: 測(cè)試夾具 ATL600: 短路片
性能特征
高亮度,超清晰四色VFD顯示。
校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
第三窗口可同時(shí)顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。
1000V*沖擊保護(hù)

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